东京精密轮廓仪薄膜测量和分析

浏览次数:0 发布日期:2020-12-28 15:30:10

      表层的镀膜在许多运用,包含电子光学,半导体材料,消费电子产品这些领域情景中,起着尤为重要的功效。东京精密轮廓仪出示的多种多样塑料薄膜精确测量和剖析技术性,能获得膜层表面、膜层厚度和基底表面形貌检测結果,进而完成对制取膜层加工工艺的精准操纵。

东京精密轮廓仪

      东京精密轮廓仪的测针力度极小,完全可以用在薄膜行业测量,而且由于其精度极高,在一些特殊行业也能够运用。用以检测和剖析1-150um厚度范畴的保护膜层。会在测针的波动下,行程波纹图形,再通过软件剖析和分离出来每个数据信号,各自获得膜层表面,厚度和基底的信息。


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